最新芯片相关数据分析(2021年芯片市场分析)

结合芯片测试项谈数据分析及Cpk计算

1、在芯片测试数据的分析中，Cpk值的计算是关键步骤。通过求出中间变量，再将值代入公式中，可计算出Cpk值。在本文示例中，计算得出的Cpk值为0.953。根据Cpk等级表分析，Cpk=0.953对应等级C，表明制程存在一定的问题，良率和产量有待提高。因此，优化制程是提升芯片测试效率和产品质量的关键。

2、测试报告汇总了测试数据，包括测试参数分布、良率、不良项目比例、各批次参数对比与偏移情况、以及计算CPK、PPM等数据。例如，Vdp_2V7测试项为芯片DP引脚的输出电压，当输入电压为5V时，输出电压应在55~85V之间。测试报告中，FT测试参数与规格书相比有轻微差异，FT最小界限比规格书大0.05V。

3、未先执行管制图以确认制程的稳定性，就径行将所算得Cpk当做『真正』的制程能力。不探讨非机遇原因，只是一味要求算Cpk，而制程并不会随着时间长而稳定。为达成客户要求，只好修改数据，『表面』的Cpk非常『良好』，却冒着被退货的高风险。