数据分析角度-{下拉词
大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于数据分析角度的问题，于是小编就整理了5个相关介绍数据分析角度的解答，让我们一起...
文章目录
[+]
大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于单晶数据分析的问题，于是小编就整理了4个相关介绍单晶数据分析的解答，让我们一起看看吧。
（图片来源网络，侵删）
单晶x射线衍射结构分析包括哪些步骤？
X射线衍射相分析（phase ***ysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。
每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发
x单晶衍射测什么？
单晶X射线衍射是利用单晶体对 X射线的衍射效应来测定晶体结构的实验方法。依照强度记录方式的不同，可分为照相法和衍射仪法两类。
照相法使射线作用在胶片上，然后测量底片上衍射点的黑度来获得衍射线的强度数据，根据实验装置和条件的差别，又分为多种方法。
劳厄照相法用连续波长的 X射线照射到静止不动的单晶体上，通常***用平板底片，所摄得的衍射图称为劳厄图。劳厄图常用来测定晶体的对称性和用于晶体的定向等。
芯片原材料单晶纳米铜实现国内量产，降低成本后，手机会降价吗？
随着产能的增加和需制原材料的不断改进，造价成本肯定就会减省下来的，这是毫无疑问的，但以后在大数据功能的作用下，将以质量衡定使用年限寿命为周期预算，该有***步骤地进行生产制造着了，就不会造成产能过剩为了变现而竟争降价出售。将以保持稳价的态势巩固着企业生产商的发展。到时不光是手机方面，凡是所有的任何产品，都是要根据当时所用的原材料购入价格而论定，都将牢牢地掌控着该降得降，该稳得稳，该涨得涨。以后的事情，这是任何人都难予说得准的事。这就应如古人所说的“早知三日事，富贵几千年”，又有谁能未卜先知呢？
需要检测未知物粉末的成分，那里能做检测？
第一反应是XRD，不过楼主的问题是怎么检测里面都有什么物质。
p-XRD，也就是
粉末XRD
，能够得到晶胞参数，如果是CCDC库里有的，还能够借此查出这块晶体是什么物质，知道对应的结构。前提是，这是个已经被解出来的晶体，且CCDC库里有录入。传说有通过粉末XRD解析晶体结构的方法，听说而已，原理不明。除了粉末XRD之外，还有
单晶X射线衍射(XRD)
，是目前依赖程度很高的一种表征手段，做晶体的人都很依赖它。但是，做过单晶X射线衍射得到的晶体数据，需要用专门的软件，一般是SHELX，来对数据进行解析。解晶体是一个繁琐，而且需要很多耐心以及经验的手艺。实际上，成功的解析出一个非常复杂的晶体，这本身就能够发文章了。当然要看晶体有多复杂了。对了，解出一个晶体，就是指得到这个晶体的结构，包括单胞参数，包括点阵结构，包括……，这门手艺叫做单晶结构解析。解晶体的市场价，根据晶体的难易程度，收费不一，500那是起步价，上千的也不少见。
当然，这种表征手段，有一定的可能能够达到楼主的目的，因为不同元素的衍射强度不一样，这些信息在收集的单晶数据中，都会有体现。将N当做O，那么椭球图一定很难看。但，如果是金属元素，尤其是彼此接近，且价态相同的金属元素，那么纯粹的依赖单晶X射线衍射，其实是很难辨别出来的。
然后，还有一种叫做
电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP）
的表征方法，这种方法应该是能够满足楼主的要求：检测未知晶体里有什么物质。原理很简单，“以等离子体为激发光源的 原子发射光谱分析方法,可进行多元素的同时测定”。随便搜索出来的，简而言之，就是以高温等离子体为能力来源，是样品中元素的外层电子被激发到高能级的轨道上，然后再跃迁回低能级的轨道。这个跃迁的过程或放出原子的特征谱线，根据谱线确定所含元素。然后还有
X射线光电子能谱(XPS)
，也能达到楼主的要求。这个原理上和上边的ICP有点接近，不过能量使用X射线供给，轰击的对象时内层电子。它把内层电子给打散了，散了，了……然后电子就变成的光电子，然后我们就获得了一堆光电子，X射线的能量与光电子能量之差，就是该电子的结合能。而电子结合能对于元素而言，是特征的。而且！如果元素拥有价态，也会影响其结合能。换言之，通过XPS，除了能知道有什么元素之外，还能知道它的价态。累了，以上到此，以上就是小编对于单晶数据分析的问题就介绍到这了，希望介绍关于单晶数据分析的4点解答对大家有用。
[免责声明]本文来源于网络，不代表本站立场，如转载内容涉及版权等问题，请联系邮箱:83115484@qq.com，我们会予以删除相关文章，保证您的权利。
